Metrological Analysis of Integrating Sphere Photometers for LED Luminous Flux Measurement

Authors

  • Леонід Андрійович Міхеєнко Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут", Ukraine
  • Анатолій Васильович Коваленко SE "Ukrmetrteststandard", Ukraine

DOI:

https://doi.org/10.20535/1810-0546.2014.5.35253

Keywords:

Metrology, Optical radiometry, Photometry, LEDs flux measurements

Abstract

A comparative metrological analysis using mathematical models of three integrating sphere photometer schemes, for LED luminous flux measurement, was held. Each model takes into account the main design parameters of the photometer, typical values of which are used in the calculations. It's shown, that for given initial conditions, the greatest contribution to the total error for schemes with LED on the wall of sphere and in the center of sphere introduces instability of sphere reflectance coating, and for the scheme with LED in front of entrance aperture of sphere, for total luminous flux measurement, – instability of the distance to the diaphragm. In general, the highest accuracy for total luminous flux measurement have a scheme with LED in the center of the sphere, somewhat lower –  a scheme with LED on the wall of sphere, and the lowest – a scheme with LED in front of input aperture of the sphere. The substantiated recommendations on the best practical application of each of the schemes are given. Also, for all schemes dependencies of the total relative error on the primary errors of basic design parameters, that can be used to select the optimal scheme of the photometer and selection of optimal values of design parameters are given.

Author Biographies

Леонід Андрійович Міхеєнко, Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут"

Doctor of engineering, associate professor, professor at the NTUU KPI

Анатолій Васильович Коваленко, SE "Ukrmetrteststandard"

Kovalenko Anatoliy V.

References

Measurement of LEDs, 2nd ed., Int. Commission on Illumination Tech. Report, CIE 127-1997, March 5, 2002.

Approved Method: Electrical and Photometric Measurements of Solid-State Lighting Products, IES LM-79-08, New York, 2008.

Приборы осветительные. Светотехнические требования и методы испытаний: ГОСТ Р 54350-2011. – М.: Стандартинформ, 2011.

Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии: Учеб. пособие / Под ред. В.Н. Крутикова. – М.: Логос, 2011. – 592 с.

Кариу Н. Интегрирующая сфера: теоретические основы измерения оптического излучения // Светотехника. – 2011. – № 2. – С. 36–38.

Круглов О.В., Кузьмин В.Н., Томский К.А. Измерение светового потока светодиодов // Светотехника. – 2009. – № 3. – С. 34–36.

Міхеєнко Л.А., Коваленко А.В. Теорія формування поля освітленості на внутрішній поверхні інтегруючої сфери фотометрів для вимірювання світлового потоку світлодіодів // Наукові вісті НТУУ “КПІ”. – 2014. – № 1. – С. 79–84.

Міхеєнко Л.А., Тимофєєв О.С. Теорія дифузного випромінювача на основі інтегруючої сфери з світловипромінюючими діодами // Наукові вісті НТУУ “КПІ”. – 2011. – № 1. – С. 129–135.

Міхеєнко Л.А., Тимофєєв О.С. Метрологічний аналіз дифузного випромінювача на основі інтегруючої сфери з світловипромінюючими діодами // Наукові вісті НТУУ “КПІ”. – 2011. – № 2. – С. 130–137.

Исследование коэффициентов яркости покрытий из краски на основе BaSO4 / М.Г. Кунецкий, С.Г. Гуминецкий, М.Ю. Сахновский и др. // ОМП. – 1981. – № 6. – C. 3–4.

Technical Guide. Reflectance Materials and Coatings., Labsphere Inc., 2010.

Азизян Г., Никифоров С. Эталонный светодиодный источник света для калибровки фотометрического оборудования // Полупроводниковая светотехника. – 2013. – № 1. – С. 54–57.

Published

2014-11-19

Issue

Section

Art